測試負(fù)載板是一種連接測試設(shè)備與被測器件的機(jī)械及電路接口，主要應(yīng)用在半導(dǎo)...
探針卡在CP測試中用于連接測試機(jī)和Die上的Pad，通常作為Loadboard的物理接口...
BIB（BURN IN BOARD，老化測試），完成封裝測試的IC在特定的工況和時間內(nèi)老化測試...
Probe card 的信號通過interposer中介層的轉(zhuǎn)換讓Probe head（探針頭）的探針可以接收到信號...
體測試板縮略.jpg)
