probe card
        
        
        
        
        
                    
        
                    
                    
        
        
        
        
        
                
        
                    
        
                        產(chǎn)品簡介
                    
        
                    
        
                        
        探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad，通常作為Loadboard的物理接口，在某些情況下ProbeCard通過插座或者其它接口電路附加 到Loadboard上。應(yīng)用：晶元切割前，透過pc可以測試晶圓品質(zhì)，避免不良產(chǎn)品產(chǎn)生封裝成本。
        
                    
        
                
        
                        
                
        
                    
        
                        應(yīng)用流程
                    
        
                    
        
                        
        
                    
        
                
        
                            
        
                    
        
                        關(guān)鍵能力
                    
        
                    
        
                        
        
                    
        
                
        
                        
        
                
        
                    更多產(chǎn)品